1. 一般掃描電子顯微鏡的透鏡和掃描線圈都是通過(guò)有序地調(diào)控其流經(jīng)線圈的電流產(chǎn)生磁場(chǎng)而進(jìn)行工作的，若樣品本身帶有磁性，會(huì)對(duì)電子光學(xué)系統(tǒng)的工作造成干擾。若樣品磁性強(qiáng)，圖像會(huì)模糊，襯度和分辨力都會(huì)變得很差，消像散器也起不了作用，則像散無(wú)法消除。

2. 磁性樣品會(huì)使電子圖像產(chǎn)生變形、扭曲，而且還會(huì)影響放大倍率和微觀測(cè)量的精度，但對(duì)某些鐵氧體材料還是可以直接放進(jìn)樣品倉(cāng)中做分析，首先樣品要粘牢、緊固，確保可靠：其次工作距離要>10mm、能>15mm，用低加速電壓、小束流，因?yàn)殍F氧體的導(dǎo)電性較差。

3. 在樣品臺(tái)上個(gè)別粘貼不牢靠的磁性粉末顆粒，易被吸附到物鏡下尤靴孔隙或者電子光學(xué)通路中，這些敏感部位一旦被污染，電子光學(xué)的性能立即遭受破壞，只能拆卸清理和清洗。這種清理維護(hù)相對(duì)一般的清洗鏡筒要麻煩得多，因這種有磁性的小顆粒很難被發(fā)現(xiàn)和清除。若確實(shí)要做這種樣品的分析，建議先考慮退磁，然后可考慮燒成陶瓷塊并經(jīng)清洗后再做分析，否則會(huì)給臺(tái)式掃描鏡簡(jiǎn)帶來(lái)災(zāi)難性的后果。

4. 磁性材料也會(huì)影響EDS和WDS的分析，當(dāng)對(duì)某個(gè)點(diǎn)進(jìn)行分析時(shí)，容易造成打偏、打歪等難定位的現(xiàn)象，也會(huì)造成臺(tái)式掃描參數(shù)的識(shí)別錯(cuò)誤，從而使定量分析誤差明顯加大。有些臺(tái)式掃描廠家的資料介紹，其物鏡是無(wú)漏磁的物鏡尤靴，可用于磁性樣品的觀察和EBSD分析。如有的采用半內(nèi)透鏡的設(shè)計(jì)，漏磁比較小，但要用于分析磁性樣品也要非常小心謹(jǐn)慎。

澤攸科技自主研發(fā)的ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡對(duì)樣品適應(yīng)性強(qiáng)，操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定，掃描速度快。只需要鼠標(biāo)就可完成所有的操作，不需對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟，聚焦消像散后可直接拍圖。主機(jī)集成高壓及控制系統(tǒng)，是目前市面上體積小的臺(tái)式掃描電鏡，便于移動(dòng)，安裝無(wú)需特殊環(huán)境。