鎢燈絲掃描電鏡總發射電流和束斑都較大，抗干擾能力和穩定性都較好，低真空下可以對不導電樣品無荷電成像，可用于形貌觀察、顯微結構分析、斷口形貌分析，在材料、地質、礦產、冶金、機械、化學、化工、物理、電子、生物、醫學、半導體等領域都有廣泛的用途。

鎢燈絲sem掃描電鏡對送檢樣品的要求有：

1、送檢樣品為干燥固體，塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可。

2、送檢樣品應有一定的化學、物理穩定性，在真空中及電子束轟擊下不會揮發或變形；無磁性、放射性和腐蝕性。

3、含水分較多的生物軟組織的樣品應制備成干燥樣品，用戶可以自行完成冷凍干燥或臨界點干燥處理，也可以自行完成臨界點干燥之前的固定、清洗、脫水及用醋酸(異)戊酯置換等處理，*后可以到本室進行臨界點干燥處理。

4、需觀察圖像的導電性不佳的樣品干燥后應鍍導電膜，該步驟可以到本室進行。

5、一般情況下，樣品盡量小塊些(≤ 10 x 10 x 5 mm較方便)。粉末樣品每個需1g左右。納米樣品一般需超聲波分散，并鍍導電膜。