掃描電鏡是一種高分辨率顯微技術，可以通過掃描樣品表面并探測樣品表面反射、散射的電子信號來獲得樣品表面形貌、結構和組成等信息。SEM掃描電鏡可以通過改變電子束的聚焦和放大倍數來調節圖像的放大程度，下面是掃描電鏡放大倍數計算方式的簡要介紹。

SEM掃描電鏡圖像的放大倍數通常分為實際放大倍數和顯示放大倍數兩種。

實際放大倍數 = 探測器到樣品距離 / 樣品上所顯示的實際長度

探測器到樣品距離指的是電子槍和樣品之間的距離，這個距離可以由掃描電鏡中的聚焦系統調節，探測器到樣品距離越小，則實際放大倍數越大。

樣品上所顯示的實際長度可以由樣品尺寸進行測量得到，例如SEM掃描電鏡圖像中一條線的長度可以通過顯微鏡測量尺寸得到。

顯示放大倍數是掃描電鏡圖像在顯示器上顯示的放大倍數，通常是實際放大倍數的一個固定倍數，可以由SEM掃描電鏡中的圖像處理系統進行調節。例如，如果實際放大倍數是1000，顯示放大倍數是2000，則掃描電鏡圖像在顯示器上顯示的放大倍數是2000。

需要注意的是，SEM掃描電鏡中的放大倍數是指圖像的線性放大倍數，即圖像中一個單位長度在樣品上所對應的長度，而不是面積放大倍數或體積放大倍數。因此，在使用掃描電鏡進行圖像分析和測量時，需要了解和計算實際放大倍數和顯示放大倍數。