掃描電鏡在使用中經(jīng)常遇到的問題主要包括但不限于以下幾個方面：

1. 圖像顯示問題

無圖像顯示：這可能是由于電源未連接正常、計算機連接錯誤、驅(qū)動程序未安裝或電子束管電流和電壓設置不正確等原因?qū)е碌摹?/span>

圖像模糊：可能由試樣臺和透鏡的灰塵、電子槍聚焦和透鏡設置不當、加速電壓設置不合適或試樣臺不平穩(wěn)引起。

圖像偏斜或傾斜：這通常與試樣臺的水平度、移動穩(wěn)定性或計算機連接的穩(wěn)定性有關。

圖像亮度不均勻：電子槍亮度設置不當、透鏡和投影系統(tǒng)的污垢或缺損以及電子束的開啟時間和掃描速度設置不合適都可能導致此問題。

2. 樣品問題

樣品飄移：這可能是由于樣品固定不牢固、導電性較差、電子束輻照導致導電膠收縮或樣品未充分干燥等原因引起的。樣品飄移會嚴重影響圖片的拍攝和能譜分析。

樣品截面制樣：對于不同類型的樣品（如脆性薄片、高分子聚合物等），需要采用不同的制樣方法，如液氮脆斷、離子切割或冷凍超薄切片等，以確保獲得高質(zhì)量的截面圖像。

3. 電磁干擾問題

電磁干擾或波紋：SEM掃描電鏡設備可能受到其他電磁干擾源（如高頻設備）的影響，導致圖像中出現(xiàn)干擾或波紋。此時，需要將掃描電鏡設備與其他電磁干擾源保持一定距離，并確保電源線正確接地。

4. 設備操作與維護問題

操作不當：如調(diào)焦時不慎使物鏡碰到試樣、在載物臺墊片圓孔中心位置遠離物鏡中心時切換物鏡等，都可能對設備造成損害。

設備維護：非專業(yè)人員不應隨意調(diào)整顯微鏡照明系統(tǒng)（如燈絲位置），以免影響成像質(zhì)量。更換鹵素燈時需注意高溫，避免灼傷，并確保不直接用手接觸鹵素燈的玻璃體。設備不使用時應及時關掉電源，以延長設備壽命。

5. 數(shù)據(jù)解釋問題

元素分布圖的噪點：在EDS（能量色散光譜儀）測試中，即使某些元素在樣品中的含量很低或為零，mapping元素分布圖中也可能出現(xiàn)噪點。因此，在解釋數(shù)據(jù)時，應以定量數(shù)據(jù)為準。

6. 樣品導電性問題

不導電樣品的處理：在SEM掃描電鏡測試中，不導電的樣品需要進行導電處理（如噴金、噴鉑或噴碳），以避免充電和放電效應對形貌圖觀察和拍照記錄的影響。然而，這些導電層可能會影響EDS測試中對其他元素的能譜分析。

綜上所述，掃描電鏡在使用中可能會遇到多種問題，這些問題涉及圖像顯示、樣品處理、電磁干擾、設備操作與維護以及數(shù)據(jù)解釋等多個方面。為了獲得高質(zhì)量的測試結果，用戶需要熟練掌握SEM掃描電鏡的操作技能，并嚴格按照操作規(guī)程進行操作和維護。